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仪器设备

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能谱仪
来源:    编辑:柴辛娜    时间:2018-04-08    
 

仪器名称

能谱仪


仪器型号

Aztec   X-MAX80

仪器生产厂家

牛津仪器公司   (OXFORD)

安装时间

201712

运行状态

正常

所属研究基地和分室

全球大地构造中心

联系人

王军鹏 wangjp@cug.edu.cn

仪器主要性能指标

1.探测器

*探测器:分析型SDD硅漂移电制冷探测器,晶体有效面积110mm2,晶体活区面积80mm2

*能量分辨率:MnKa保证优于127eV,   元素分析范围: Be4Cf98

*圆形对称芯片,独立封装FET场效应管,避免X射线轰击

*谱峰稳定性:1,000cps100,000cpsMnKa峰谱峰漂移小于1eV,分辨率变化小于1eV, 48小时内峰位漂移小于1.5eV

*探测器自动伸缩,精确定位,无需手摇

2.显微分析处理器

*能谱仪图像处理器及脉冲处理器均与计算机采用分立式设计,电子图像清晰度8192*8192,全谱面分布图清晰度4096*4096

*图像灰度、对比度自动调节,二次电子像及背散射像可同时采集

3.软件

*软件为最新的AZtec平台,基于Win7   技术,多线程设计,导航器界面, 支持用户自定义模式及账户管理,支持分屏显示及远程控制,支持中、英文等多种操作界面

主要功能及应用范围

1.定性分析

可自动标识谱峰,进行谱重构,对重叠峰进行手动峰剥离;

2.定量分析

具备有标样定量分析及无标样定量分析方法,可以得到归一化结果, 或用化学配位法得到非归一化结果;

3.全谱智能面扫描

一次采集, 能存储每一扫描位置(x, y)的所有元素的信息,随后可以在从图像上的任何位置重建谱图、重构线扫描结果,并调用或删除任意元素的面分布结果.

4.全谱智能线扫描

全部数据一次线扫描全部收集, 可以随时任意添加删除元素, 进行谱图重构

5.轻元素定量分析程序,

采用XPP模型,比ZAF精度高数倍最新显微定量分析修正程序,大大提高分析精度